RT info:eu-repo/semantics/masterThesis
T1 Utilización de técnicas de medida de corriente para la caracterización eléctrica de estructuras MIM basadas en óxido de niobio
A1 Encinas Gozalo, Verónica
A2 Universidad de Valladolid. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación
K1 Ordenadores-Memorias
AB En este trabajo se estudian las memorias RAM dinámicas (DRAM), así como lanecesidad de la utilización de dieléctricos de alta permitividad para continuar con elaumento en la densidad de capacidad de estas memorias DRAM. El aumento de estacapacidad se puede hacer de varias formas: en nuestro caso se opta por aumentar lacapacidad del condensador aumentando la permitividad dieléctrica del propiocondensador.Por lo tanto en este trabajo analizamos las ventajas y desventajas de cada una deestas formas de aumentar la densidad de la capacidad de estas memorias DRAM.Quedándonos con el aumento de la permitividad dieléctrica del condensador.El material aislante de estudio para el condensador es el Dióxido de Niobio (Nb2O5),ya que tiene una alta permitividad dieléctrica. Estas muestras han sido crecidas pordeposición de capas atómicas utilizando como precursor el ozono y con diferentestemperaturas de recocido. A la muestra estudiada se le aplica un barrido de tensiones yte va dando el valor de la corriente para cada valor de tensión aplicado. Esto se estudiapara varias temperaturas. Y con los resultados comprobamos qué mecanismo deconducción es el que se está dando en estas muestras.
YR 2013
FD 2013
LK http://uvadoc.uva.es/handle/10324/2664
UL http://uvadoc.uva.es/handle/10324/2664
LA spa
NO Electricidad y Electrónica
DS UVaDOC
RD 20-abr-2024