Una propuesta de arquitectura Big Data para la prognosis de dispositivos electrónicos

Abstract

Los dispositivos electrónicos son una pieza clave y fundamental en la sociedad actual. En gran cantidad de escenarios es de vital importancia que estos dispositivos estén en continuo funcionamiento y la detección de posibles fallos es un factor crucial para mantener en funcionamiento el sistema en el que se integran. Los posibles fallos de estos dispositivos electrónicos normalmente suelen ser causados por fallos en los componentes que integran, por ejemplo, transistores MOSFET. En este contexto es necesario realizar un estudio y modelado de la vida útil de los dispositivos (RUL), es decir, es necesario descubrir y aplicar técnicas que permitan predecir el tiempo de vida que queda para cada dispositivo, es lo que se conoce como prognosis.