Análisis por Microscopía de Fuerza Atómica de superficies. Estudio de la interacción punta-muestra

Abstract

En este trabajo se han analizado distintas muestras, formadas por varias capas de polímeros para analizar la potencialidad de la Microscopía de Fuerza Atómica, como técnica de caracterización superficial de muestras planas. El análisis de las imágenes de topografía y de contraste de fase han permitido comprobar la homogeneidad de la deposición de las capas poliméricas y el adecuado método de fabricación como membranas de separación de gases. El análisis de las imágenes topográficas nos ha permitido calcular la rugosidad, la densidad espectral de potencia y la dimensión fractal de las muestras, siendo la correlación entre los resultados para las distintas muestras adecuado y coherente con el método de fabricación y las características de los materiales utilizados.

In this work various samples consisting of multiple polymer layers have been analyzed to assess the potential of Atomic Force Microscopy as a surface characterization technique for flat surfaces. The analysis of topography and phase contrast images has allowed us to verify the homogeneity of the polymer layer deposition and the appropriate manufacturing method as gas separation membranes. The analysis of the topographic images has enabled us to calculate the roughness, power spectral density and fractal dimension, the correlation between the results for the different samples being adequate and consistent with the fabrication method and the characteristics of the materials used.