2026-04-28T21:16:11Zhttps://uvadoc.uva.es/oai/requestoai:uvadoc.uva.es:10324/320572021-06-29T22:37:16Zcom_10324_38col_10324_852
Santos Tejido, Iván
Nieto Díez, Maralla
Universidad de Valladolid. Facultad de Ciencias
2018-10-09T14:53:09Z
2018-10-09T14:53:09Z
2018
http://uvadoc.uva.es/handle/10324/32057
El presente trabajo pretende abordar la técnica de caracterización de materiales
cristalinos llamada Análisis de la Fase Geométrica (Geometric Phase Analysis, GPA),
mediante la cual se pueden extraer campos de desplazamiento y campos de tensión a
partir de imágenes de microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (high
resolution transmission electron microscopy, HRTEM), definiéndose pues estructuralmente
el material, dando cuenta de los defectos presentes en ellos. El método se basa
en seleccionar un punto de fuerte reflexión en la transformada de Fourier de la imagen
original HRTEM y posteriormente realizar la transformada de Fourier inversa de manera
que obtengamos la componente de la imagen resultante a la que llamaremos “fase”.
Con la componente fase de dos puntos no colineales podremos obtener tanto el campo
de desplazamiento como el campo de tensión, este último derivando el primero.
Grado en Física
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Análisis fase geométrica
Caracterización estructural
Defectos extensos
Silicio
Caracterización estructural de materiales cristalinos: análisis de imágenes con resolución atómica mediante la transformada de Fourier
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis