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<dc:contributor>Santos Tejido, Iván</dc:contributor>
<dc:contributor>Universidad de Valladolid. Facultad de Ciencias</dc:contributor>
<dc:creator>Nieto Díez, Maralla</dc:creator>
<dc:date>2018</dc:date>
<dc:description>El presente trabajo pretende abordar la técnica de caracterización de materiales&#xd;
cristalinos llamada Análisis de la Fase Geométrica (Geometric Phase Analysis, GPA),&#xd;
mediante la cual se pueden extraer campos de desplazamiento y campos de tensión a&#xd;
partir de imágenes de microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (high&#xd;
resolution transmission electron microscopy, HRTEM), definiéndose pues estructuralmente&#xd;
el material, dando cuenta de los defectos presentes en ellos. El método se basa&#xd;
en seleccionar un punto de fuerte reflexión en la transformada de Fourier de la imagen&#xd;
original HRTEM y posteriormente realizar la transformada de Fourier inversa de manera&#xd;
que obtengamos la componente de la imagen resultante a la que llamaremos “fase”.&#xd;
Con la componente fase de dos puntos no colineales podremos obtener tanto el campo&#xd;
de desplazamiento como el campo de tensión, este último derivando el primero.</dc:description>
<dc:format>application/pdf</dc:format>
<dc:identifier>http://uvadoc.uva.es/handle/10324/32057</dc:identifier>
<dc:language>spa</dc:language>
<dc:title>Caracterización estructural de materiales cristalinos: análisis de imágenes con resolución atómica mediante la transformada de Fourier</dc:title>
<dc:type>info:eu-repo/semantics/bachelorThesis</dc:type>
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