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Pérez Barreiro, María Cristina Universidad de Valladolid. Escuela de Ingenierías Industriales Peña Moro, Alejandro 2021 Hoy en día, la microelectrónica es fundamental en nuestras vidas. Los circuitos integrados se encuentran en todos los dispositivos electrónicos de la actualidad, siendo su componente principal. Es esencial que estos circuitos integrados funcionen correctamente por lo que, dentro del proceso de fabricación, una de las fases más importantes es el testeado de estos circuitos. La fabricación de circuitos integrados está formada por un conjunto de etapas complejas que es fácil que induzcan errores en los circuitos, por lo que antes de que salgan de la fábrica deben ser comprobados y aquellos defectuosos, retirados. Este trabajo muestra los diferentes tipos de circuitos integrados, sus fallos más comunes, los principales parámetros que hay que comprobar y diferentes técnicas para ello. El aumento de la demanda de circuitos integrados y el avance tecnológico ha permitido desarrollar más circuitos integrados aplicando mejores técnicas de fabricación y, en consecuencia, ha sido necesario desarrollar técnicas de testeo más eficientes, por lo que en este trabajo se expone un método adaptativo para comprobar el correcto funcionamiento de los circuitos que se fabrican. Nowadays, microelectronic technology is very important in our lifes. Integrated circuits are found in all electronic devices. Correct operation of integrated circuits is essential so test them is one of the most important phases of their manufacturing process. All integrated circuits must be tested and if any of the integrated circuit fail it will be removed. My bachelor degree thesis shown the different types of integrated circuit and the most commun fails. Also it shown the principal parameters that must be tested and how we can do it. The increasing demand of integrated circuits and technological advance have made possible to develop more chips using better manufacturing techniques. This integrated circuits should be tested applying more efficient test methods, therefore in this document explains an adaptative test. application/pdf https://uvadoc.uva.es/handle/10324/47988 spa Test de circuitos integrados info:eu-repo/semantics/bachelorThesis TEXT UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid Hispana