<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><?xml-stylesheet type="text/xsl" href="static/style.xsl"?><OAI-PMH xmlns="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/OAI-PMH.xsd"><responseDate>2026-04-14T19:26:07Z</responseDate><request verb="GetRecord" identifier="oai:uvadoc.uva.es:10324/50929" metadataPrefix="edm">https://uvadoc.uva.es/oai/request</request><GetRecord><record><header><identifier>oai:uvadoc.uva.es:10324/50929</identifier><datestamp>2021-12-14T23:00:58Z</datestamp><setSpec>com_10324_30605</setSpec><setSpec>com_10324_894</setSpec><setSpec>col_10324_41</setSpec></header><metadata><rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:doc="http://www.lyncode.com/xoai" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ore="http://www.openarchives.org/ore/terms/" xmlns:dcterms="http://purl.org/dc/terms/" xmlns:ds="http://dspace.org/ds/elements/1.1/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:edm="http://www.europeana.eu/schemas/edm/" xsi:schemaLocation="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns# http://www.europeana.eu/schemas/edm/EDM.xsd">
<edm:ProvidedCHO rdf:about="https://uvadoc.uva.es/handle/10324/50929">
<dc:contributor>Castán Lanaspa, María Helena</dc:contributor>
<dc:contributor>Dueñas Carazo, Salvador</dc:contributor>
<dc:contributor>Universidad de Valladolid. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación</dc:contributor>
<dc:creator>González Ossorio, Óscar</dc:creator>
<dc:date>2021</dc:date>
<dc:description>En esta tesis doctoral se investiga el funcionamiento de dispositivos&#xd;
de conmutación resistiva (Resistive Switching) basados en estructuras MIM&#xd;
(Metal-Insulator-Metal), y cuya configuración consiste por tanto en dos&#xd;
electrodos metálicos separados por un material aislante o dieléctrico. Es&#xd;
precisamente el dieléctrico de cada una de estas estructuras el elemento&#xd;
preponderante en nuestro estudio a la hora de agruparlas y compararlas. El&#xd;
funcionamiento de una memoria de conmutación resistiva (RRAM) se basa&#xd;
en la propiedad de modular la resistencia eléctrica del material aislante que&#xd;
forma parte de ella y, por tanto, de la corriente que circula entre ambos&#xd;
electrodos. La capa de material dieléctrico, debido a su escaso espesor&#xd;
(entre 3 y 100 nm, habitualmente) puede experimentar una ruptura dieléctrica&#xd;
(breakdown) cuando es sometida a un estrés eléctrico, lo que genera caminos&#xd;
de corriente entre los electrodos para después funcionar como una memoria&#xd;
gracias a una reversibilidad parcial de los niveles de conductividad en su&#xd;
interior. De esta forma, mediante la formación y la ruptura de uno o varios&#xd;
filamentos conductores en el dieléctrico, se puede controlar el estado del&#xd;
dispositivo de manera que conmute entre dos niveles de resistencia (baja y alta,&#xd;
respectivamente), lo que fundamenta su aplicación en el ámbito de las memorias&#xd;
no volátiles.&#xd;
Por otra parte, puesto que el valor de la resistencia eléctrica efectiva de&#xd;
la estructura está ligado a la existencia de filamentos conductores en el seno&#xd;
del dieléctrico, también es posible conseguir un funcionamiento de naturaleza&#xd;
analógica efectuando un control del número y grosor de los filamentos, lo que&#xd;
genera la existencia de múltiples estados intermedios entre el de baja y el de alta&#xd;
resistencia. Esta propiedad permite emular el comportamiento de las conexiones&#xd;
sinápticas de las neuronas y abre la puerta a las aplicaciones en el campo de&#xd;
los circuitos neuromórficos, en los cuales estos dispositivos ejercen labores de&#xd;
sinapsis electrónicas.&#xd;
VII&#xd;
En consecuencia, nuestro estudio consiste en la caracterización eléctrica&#xd;
del comportamiento de los dispositivos de conmutación resistiva desde dos&#xd;
vertientes: digital y analógica. La perspectiva digital se basa en el control de&#xd;
dos estados bien diferenciados, mientras que la analógica es más compleja: la&#xd;
repetitividad de un quasicontinuum de estados intermedios y la existencia de&#xd;
procedimientos eficaces para recorrer dichos estados suponen un reto científico&#xd;
y tecnológico de gran magnitud. Como se irá detallando a lo largo de estas&#xd;
páginas, el universo de aplicaciones que se abre tras estos dispositivos abarca&#xd;
un amplio espectro de posibilidades. Esto los sitúa en un foco de interés&#xd;
que recorre un ámbito multidisciplinar desde la ciencia de materiales hasta&#xd;
los circuitos inspirados en estructuras biológicas, pasando por la criptografía&#xd;
(cuya aproximación es posible debido a la conmutación probabilística que&#xd;
permite realizar funciones inclonables) y el desarrollo de redes neuronales y&#xd;
de aplicaciones basadas en aprendizaje profundo (deep-learning).&#xd;
La principal aportación de este trabajo ha sido la realización de un&#xd;
estudio sistemático de un conjunto de dispositivos de conmutación resistiva&#xd;
basados en una amplia gama de materiales dieléctricos, mediante técnicas&#xd;
de caracterización eléctrica (donde algunas de las cuales son genuinas de&#xd;
nuestro grupo de investigación). El estudio de parámetros tanto de continua&#xd;
como de pequeña señal, el establecimiento de variables como la frecuencia&#xd;
y la temperatura, la utilización de técnicas de inyección de corriente y de&#xd;
carga, y el desarrollo de métodos para controlar con precisión el recorrido&#xd;
por los estados intermedios, constituyen el mayor valor científico original&#xd;
de esta Tesis Doctoral. Como va a quedar demostrado, la colaboración&#xd;
con grupos de reconocida trayectoria ha sido decisiva para acometer esta&#xd;
ambiciosa tarea. En esta memoria se separa el contenido principal en tres&#xd;
partes bien diferenciadas: estructuras MIM basadas en óxido de hafnio,&#xd;
estructuras MIM fabricadas con diversos óxidos funcionales, y estructuras&#xd;
más avanzadas con configuración 1-transistor-1-resistencia (1T1R) de óxido de&#xd;
hafnio y óxido de hafnio dopado con aluminio. Los dispositivos de óxido de&#xd;
hafnio, de una gran calidad por su excelente repetitividad, han sido fabricados&#xd;
en el Instituto de Microelectrónica de Barcelona. El apartado de óxidos&#xd;
funcionales presenta algunas combinaciones de óxidos menos convencionales&#xd;
como material dieléctrico; las muestras de laboratorio descritas en esa sección&#xd;
VIII&#xd;
proceden de la Universidad de Tartu (Estonia) y de la Universidad de Helsinki&#xd;
(Finlandia). Por otra parte, el apartado de estructuras 1T1R surgió a partir de las&#xd;
dos estancias que desarrollé en el centro de investigación IHP de Fráncfort del&#xd;
Óder (Alemania).&#xd;
Los capítulos 4, 5 y 6 son los de mayor extensión y constituyen el verdadero&#xd;
núcleo de este trabajo, pues aglutinan todo el compendio de resultados de&#xd;
las tres partes antes mencionadas. Los capítulos previos proporcionan un&#xd;
contexto científico al exponer el estado del arte: los capítulos 1 y 2 abordan los&#xd;
fundamentos básicos de los dieléctricos de alta permitividad y de las memorias&#xd;
de conmutación resistiva, y el capítulo 3 hace mención a las técnicas de&#xd;
caracterización eléctrica de memristores, incidiendo en las que aplicamos de&#xd;
manera sistemática en nuestro grupo de investigación. Por último, en el capítulo&#xd;
7 se exponen las principales aportaciones, así como una valoración del trabajo&#xd;
que he realizado durante mi travesía predoctoral.</dc:description>
<dc:format>application/pdf</dc:format>
<dc:identifier>https://uvadoc.uva.es/handle/10324/50929</dc:identifier>
<dc:language>spa</dc:language>
<dc:subject>RRAM</dc:subject>
<dc:subject>Caracterización eléctrica</dc:subject>
<dc:subject>Electricidad</dc:subject>
<dc:subject>Circuitos neuromórficos</dc:subject>
<dc:subject>22 Física</dc:subject>
<dc:title>Caracterización eléctrica de dispositivos de conmutación resistiva para su aplicación en el ámbito de memorias no volátiles y de circuitos neuromórficos</dc:title>
<dc:type>info:eu-repo/semantics/doctoralThesis</dc:type>
<dcterms:alternative>Electrical characterization of resistive switching devices for their application in the field of non-volatile memories and neuromorphic circuits</dcterms:alternative>
<edm:type>TEXT</edm:type>
</edm:ProvidedCHO>
<ore:Aggregation rdf:about="https://uvadoc.uva.es/handle/10324/50929#aggregation">
<edm:aggregatedCHO rdf:resource="https://uvadoc.uva.es/handle/10324/50929"/>
<edm:dataProvider>UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid</edm:dataProvider>
<edm:isShownAt rdf:resource="https://uvadoc.uva.es/handle/10324/50929"/>
<edm:isShownBy rdf:resource="https://uvadoc.uva.es/bitstream/10324/50929/1/TESIS-1897-211213.pdf"/>
<edm:provider>Hispana</edm:provider>
<edm:rights rdf:resource="http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/"/>
</ore:Aggregation>
<edm:WebResource rdf:about="https://uvadoc.uva.es/bitstream/10324/50929/1/TESIS-1897-211213.pdf">
<edm:rights rdf:resource="http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/"/>
</edm:WebResource>
</rdf:RDF></metadata></record></GetRecord></OAI-PMH>