RT info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
T1 Caracterización estructural de materiales cristalinos: análisis de imágenes con resolución atómica mediante la transformada de Fourier
A1 Nieto Díez, Maralla
A2 Universidad de Valladolid. Facultad de Ciencias
K1 Análisis fase geométrica
K1 Caracterización estructural
K1 Defectos extensos
K1 Silicio
AB El presente trabajo pretende abordar la técnica de caracterización de materialescristalinos llamada Análisis de la Fase Geométrica (Geometric Phase Analysis, GPA),mediante la cual se pueden extraer campos de desplazamiento y campos de tensión apartir de imágenes de microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (highresolution transmission electron microscopy, HRTEM), definiéndose pues estructuralmenteel material, dando cuenta de los defectos presentes en ellos. El método se basaen seleccionar un punto de fuerte reflexión en la transformada de Fourier de la imagenoriginal HRTEM y posteriormente realizar la transformada de Fourier inversa de maneraque obtengamos la componente de la imagen resultante a la que llamaremos “fase”.Con la componente fase de dos puntos no colineales podremos obtener tanto el campode desplazamiento como el campo de tensión, este último derivando el primero.
YR 2018
FD 2018
LK http://uvadoc.uva.es/handle/10324/32057
UL http://uvadoc.uva.es/handle/10324/32057
LA spa
DS UVaDOC
RD 20-abr-2024