RT info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
T1 Test de circuitos integrados
A1 Peña Moro, Alejandro
A2 Universidad de Valladolid. Escuela de Ingenierías Industriales
K1 Circuito integrado
K1 Diseño para la testabilidad
K1 Test adaptativo
K1 Equipo de test automático
K1 Test
AB Hoy en día, la microelectrónica es fundamental en nuestras vidas. Los circuitosintegrados se encuentran en todos los dispositivos electrónicos de la actualidad,siendo su componente principal. Es esencial que estos circuitos integradosfuncionen correctamente por lo que, dentro del proceso de fabricación, una de lasfases más importantes es el testeado de estos circuitos. La fabricación de circuitosintegrados está formada por un conjunto de etapas complejas que es fácil queinduzcan errores en los circuitos, por lo que antes de que salgan de la fábrica debenser comprobados y aquellos defectuosos, retirados. Este trabajo muestra losdiferentes tipos de circuitos integrados, sus fallos más comunes, los principalesparámetros que hay que comprobar y diferentes técnicas para ello. El aumento de lademanda de circuitos integrados y el avance tecnológico ha permitido desarrollarmás circuitos integrados aplicando mejores técnicas de fabricación y, enconsecuencia, ha sido necesario desarrollar técnicas de testeo más eficientes, porlo que en este trabajo se expone un método adaptativo para comprobar el correctofuncionamiento de los circuitos que se fabrican.
YR 2021
FD 2021
LK https://uvadoc.uva.es/handle/10324/47988
UL https://uvadoc.uva.es/handle/10324/47988
LA spa
NO Departamento de Tecnología Electrónica
DS UVaDOC
RD 18-sep-2024