• español
  • English
  • français
  • Deutsch
  • português (Brasil)
  • italiano
    • español
    • English
    • français
    • Deutsch
    • português (Brasil)
    • italiano
    • español
    • English
    • français
    • Deutsch
    • português (Brasil)
    • italiano
    JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

    Stöbern

    Gesamter BestandBereicheErscheinungsdatumAutorenSchlagwortenTiteln

    Mein Benutzerkonto

    Einloggen

    Statistik

    Benutzungsstatistik

    Compartir

    Dokumentanzeige 
    •   UVaDOC Startseite
    • WISSENSCHAFTLICHE ARBEITEN
    • Departamentos
    • Dpto. Física de la Materia Condensada, Cristalografía y Mineralogía
    • DEP32 - Artículos de revista
    • Dokumentanzeige
    •   UVaDOC Startseite
    • WISSENSCHAFTLICHE ARBEITEN
    • Departamentos
    • Dpto. Física de la Materia Condensada, Cristalografía y Mineralogía
    • DEP32 - Artículos de revista
    • Dokumentanzeige
    • español
    • English
    • français
    • Deutsch
    • português (Brasil)
    • italiano

    Exportar

    RISMendeleyRefworksZotero
    • edm
    • marc
    • xoai
    • qdc
    • ore
    • ese
    • dim
    • uketd_dc
    • oai_dc
    • etdms
    • rdf
    • mods
    • mets
    • didl
    • premis

    Citas

    Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:http://uvadoc.uva.es/handle/10324/21770

    Título
    Catastrophic optical damage of high power InGaAs/AlGaAs laser diodes
    Autor
    Souto Bartolomé, Jorge ManuelAutoridad UVA Orcid
    Pura Ruiz, José LuisAutoridad UVA
    Torres, Alfredo
    Jiménez López, Juan IgnacioAutoridad UVA Orcid
    Bettiati, Mauro
    Laruelle, Francois
    Año del Documento
    2016
    Editorial
    Elsevier
    Descripción
    Producción Científica
    Documento Fuente
    Microelectron. Reliability 64, 627 (1916)
    Zusammenfassung
    The defects generated by the catastrophic optical degradation (COD) of high power laser diodes have been examined using cathodoluminescence (CL). Discontinuous dark lines that correspond to different levels of damage have been observed along the ridge. Finite element methods have been applied to solve a physical model for the degradation of the diodes that explicitly considers the thermal and mechanical properties of the laser structure. According to this model, the COD is triggered by a local temperature enhancement that gives rise to thermal stresses leading to the generation of dislocations. Damage is initially localized in the QW, and when it propagates to the waveguide layers the laser ends its life.
    Materias (normalizadas)
    Cathodoluminescence
    ISSN
    0026-2714
    Revisión por pares
    SI
    DOI
    10.1016/j.microrel.2016.07.038
    Patrocinador
    Junta de Castilla y León (programa de apoyo a proyectos de investigación – Ref. VA302U13)
    Version del Editor
    http://www.journals.elsevier.com/microelectronics-reliability/
    Idioma
    eng
    URI
    http://uvadoc.uva.es/handle/10324/21770
    Derechos
    openAccess
    Aparece en las colecciones
    • DEP32 - Artículos de revista [285]
    Zur Langanzeige
    Dateien zu dieser Ressource
    Nombre:
    Microel_Rel_64_627_2016.pdf
    Tamaño:
    367.1Kb
    Formato:
    Adobe PDF
    Thumbnail
    Öffnen
    Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 InternationalSolange nicht anders angezeigt, wird die Lizenz wie folgt beschrieben: Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International

    Universidad de Valladolid

    Powered by MIT's. DSpace software, Version 5.10