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    Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:http://uvadoc.uva.es/handle/10324/21797

    Título
    Raman Spectroscopy in Group IV Nanowires and Nanowire Axial Heterostructures
    Autor
    Anaya Calvo, JuliánAutoridad UVA Orcid
    Torres, Alfredo
    Jiménez López, Juan IgnacioAutoridad UVA Orcid
    Rodríguez, Andrés
    Rodríguez, Tomás
    Ballesteros, Carmen
    Año del Documento
    2014
    Editorial
    Cambridge University Press
    Descripción
    Producción Científica
    Documento Fuente
    MRS Proceedings, 2014, Volume 1659, p. 143-148
    Abstract
    The control of the SiGe NW composition is fundamental for the fabrication of high quality heterostructures. Raman spectroscopy has been used to analyse the composition of SiGe alloys. We present a study of the Raman spectrum of SiGe nanowires and SiGe/Si heterostructures. The inhomogeneity of the Ge composition deduced from the Raman spectrum is explained by the existence of a Ge-rich outer shell and by the interaction of the NW with the electromagnetic field associated with the laser beam.
    Materias (normalizadas)
    Raman Spectroscopy
    Revisión por pares
    SI
    DOI
    10.1557/opl.2014.197
    Patrocinador
    Junta de Castilla y León (programa de apoyo a proyectos de investigación – Ref. VA302U13)
    Version del Editor
    https://www.cambridge.org/
    Idioma
    eng
    URI
    http://uvadoc.uva.es/handle/10324/21797
    Derechos
    openAccess
    Collections
    • DEP32 - Artículos de revista [284]
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    Nombre:
    INVE_MEM_2013_169439.pdf
    Tamaño:
    728.2Kb
    Formato:
    Adobe PDF
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