Statistiques 

Statistiques

Nombre total de visites

Consultations
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation789

Téléchargements de fichiers

Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf579

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

Consultations
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation241

Número de descargas en el intervalo

Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf29

Visitas

Visitas
janvier 20254
février 202510
mars 20256
avril 20257
mai 2025108
juin 2025106
juillet 20250
Descarga de datos en CSV
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Número de descargas en el intervalo

  • Descargas
  • janvier 2025
    5
  • février 2025
    5
  • mars 2025
    10
  • avril 2025
    6
  • mai 2025
    1
  • juin 2025
    2
  • juillet 2025
    0
  • Descarga de datos en CSV
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Consultations : palmarès par pays

Consultations
Etats-Unis207
Russie10
Brésil10
Vénézuela3
Hong-Kong2
Chine2
Allemagne1
Royaume-Uni1
Inde1
Japon1

Países con más descargas

Descargas
Etats-Unis8
Allemagne3
Japon3
Royaume-Uni2
Chine2
Inde1
Russie1

Consultations : palmarès par ville

Consultations
Council Bluffs16
Inglewood3
São Paulo2
Central2
Amsterdam1
Ashburn1
Crateus1
Curitiba1
Hangzhou1
Hanover1

Ciudades con más descargas

Descargas
Ashburn2