Estadísticas

Número total de visitas

	Visualizaciones
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation	478

Visitas al fichero

	Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf	490

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

	Visualizaciones
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation	37

Número de descargas en el intervalo

	Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf	20

Visitas

	Visitas
gennaio 2024	2
febbraio 2024	6
marzo 2024	4
aprile 2024	13
maggio 2024	7
giugno 2024	2
luglio 2024	3

Descarga de datos en CSV

Gráfico barras

Gráfico líneas

Número de descargas en el intervalo

Descargas
gennaio 2024

2
febbraio 2024

5
marzo 2024

4
aprile 2024

1
maggio 2024

2
giugno 2024

4
luglio 2024

2
Descarga de datos en CSV

Gráfico barras

Gráfico líneas

Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Stati Uniti	29
Cina	5
Germania	1
Indonesia	1
India	1

Países con más descargas

	Descargas
Stati Uniti	13
Cina	3
Indonesia	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Ashburn	7
Welsh	4
Indianola	4
Berlin	1
Inglewood	1
Jakarta	1
Shanghai	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Ashburn	4
Indianola	2
Jakarta	1