Caracterización estructural de materiales cristalinos: análisis de imágenes con resolución atómica mediante la transformada de Fourier

Abstract

El presente trabajo pretende abordar la técnica de caracterización de materiales cristalinos llamada Análisis de la Fase Geométrica (Geometric Phase Analysis, GPA), mediante la cual se pueden extraer campos de desplazamiento y campos de tensión a partir de imágenes de microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (high resolution transmission electron microscopy, HRTEM), definiéndose pues estructuralmente el material, dando cuenta de los defectos presentes en ellos. El método se basa en seleccionar un punto de fuerte reflexión en la transformada de Fourier de la imagen original HRTEM y posteriormente realizar la transformada de Fourier inversa de manera que obtengamos la componente de la imagen resultante a la que llamaremos “fase”. Con la componente fase de dos puntos no colineales podremos obtener tanto el campo de desplazamiento como el campo de tensión, este último derivando el primero.