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Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	657

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China	21
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Rusia	16
Vietnam	13
Singapur	6
Hong Kong	5
Venezuela	3
Reino Unido	2

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Estados Unidos	11
España	5
China	5
Singapur	5
Hong Kong	4
Rusia	1
Vietnam	1
Venezuela	1
Reino Unido	1

Ciudades con más visualizaciones

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Inca	8
Ho Chi Minh City	6
Central	5
Valladolid	4
Shanghai	4
Huangpu	3
Hanoi	3
Hefei	2
Long An	2
New York	2

Ciudades con más descargas

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Central	4
Inca	2
Ho Chi Minh City	1