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Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	657

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aprile 2025	12
maggio 2025	29
giugno 2025	24
luglio 2025	23
agosto 2025	24
settembre 2025	30
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aprile 2025

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Stati Uniti	30
Cina	21
Spagna	20
Brasile	19
Russia	16
Vietnam	13
Singapore	6
Hong Kong	5
Venezuela	3
Regno Unito	2

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Stati Uniti	11
Spagna	5
Cina	5
Singapore	5
Hong Kong	4
Russia	1
Vietnam	1
Venezuela	1
Regno Unito	1

Ciudades con más visualizaciones

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Inca	8
Ho Chi Minh City	6
Central	5
Valladolid	4
Shanghai	4
Huangpu	3
Hanoi	3
Hefei	2
Long An	2
New York	2

Ciudades con más descargas

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Central	4
Inca	2
Ho Chi Minh City	1