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Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	591

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Janeiro 2025	11
Fevereiro 2025	12
Março 2025	12
Abril 2025	12
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Junho 2025	24
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Janeiro 2025

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Fevereiro 2025

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Abril 2025

8
Maio 2025

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Principais visualizações por país

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Brasil	30
Estados Unidos	27
Rússia	17
Espanha	14
Vietnã	11
Cingapura	4
Venezuela	3
Índia	2
China	2
Argentina	1

Países con más descargas

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Estados Unidos	14
Rússia	7
Espanha	1
Brasil	1
Cingapura	1
Venezuela	1
China	1

Principais visualizações por cidade

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Valladolid	6
Ashburn	5
Ho Chi Minh City	4
Singapore	3
Hanoi	3
Long An	2
Salvador	2
Belo Horizonte	2
Araraquara	1
Arraial do Cabo	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	7