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Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	509

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Outubro 2024	11
Novembro 2024	9
Dezembro 2024	12
Janeiro 2025	11
Fevereiro 2025	12
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Outubro 2024

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Novembro 2024

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1
Janeiro 2025

12
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6
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Estados Unidos	23
Brasil	14
Cingapura	7
Índia	5
França	4
Espanha	4
China	2
Rússia	2
Austrália	2
Canadá	1

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Estados Unidos	18
Rússia	6
França	3
China	1
Brasil	1

Principais visualizações por cidade

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Ashburn	8
Valladolid	4
Singapore	3
Mumbai	2
Pali	2
Boardman	2
Adelaide	1
Amsterdam	1
Arraial do Cabo	1
Belo Horizonte	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	9