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Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	657

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Abril 2025	12
Maio 2025	29
Junho 2025	24
Julho 2025	23
Agosto 2025	24
Setembro 2025	30
Outubro 2025	9

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Abril 2025

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Maio 2025

2
Junho 2025

3
Julho 2025

5
Agosto 2025

7
Setembro 2025

13
Outubro 2025

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Principais visualizações por país

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Estados Unidos	30
China	21
Espanha	20
Brasil	19
Rússia	16
Vietnã	13
Cingapura	6
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	5
Venezuela	3
Reino Unido	2

Países con más descargas

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Estados Unidos	11
Espanha	5
China	5
Cingapura	5
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	4
Rússia	1
Vietnã	1
Venezuela	1
Reino Unido	1

Principais visualizações por cidade

	Visualizações
Inca	8
Ho Chi Minh City	6
Central	5
Valladolid	4
Shanghai	4
Huangpu	3
Hanoi	3
Hefei	2
Long An	2
New York	2

Ciudades con más descargas

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Central	4
Inca	2
Ho Chi Minh City	1