Estatística

Total de visitas

	Visualizações
Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	454

Arquivos visitados

	Descargas
Defect-recognition-means-Preprint.pdf	437

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

	Visualizações
Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	85

Número de descargas en el intervalo

	Descargas
Defect-recognition-means-Preprint.pdf	25

Visitas

	Visitas
Maio 2024	4
Junho 2024	20
Julho 2024	17
Agosto 2024	15
Setembro 2024	14
Outubro 2024	11
Novembro 2024	4

Descarga de datos en CSV

Gráfico barras

Gráfico líneas

Número de descargas en el intervalo

Descargas
Maio 2024

2
Junho 2024

4
Julho 2024

4
Agosto 2024

7
Setembro 2024

3
Outubro 2024

4
Novembro 2024

1
Descarga de datos en CSV

Gráfico barras

Gráfico líneas

Principais visualizações por país

	Visualizações
Estados Unidos	42
Cingapura	22
Austrália	5
Rússia	4
Espanha	2
Índia	2
China	2
Brasil	1
Canadá	1
França	1

Países con más descargas

	Descargas
Estados Unidos	14
França	3
China	2

Principais visualizações por cidade

	Visualizações
Ashburn	18
Singapore	15
Boardman	4
Santa Clara	3
Schaumburg	3
Indianola	3
Valladolid	2
Melbourne	2
Adelaide	1
Amsterdam	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Ashburn	5