Estadísticas

Número total de visitas

	Visualizaciones
Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	459

Visitas al fichero

	Descargas
TFM-G179.pdf	202

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

	Visualizaciones
Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	46

Número de descargas en el intervalo

	Descargas
TFM-G179.pdf	25

Visitas

	Visitas
enero 2024	9
febrero 2024	7
marzo 2024	7
abril 2024	10
mayo 2024	2
junio 2024	8
julio 2024	3

Descarga de datos en CSV

Gráfico barras

Gráfico líneas

Número de descargas en el intervalo

Descargas
enero 2024

3
febrero 2024

7
marzo 2024

8
abril 2024

1
mayo 2024

2
junio 2024

0
julio 2024

4
Descarga de datos en CSV

Gráfico barras

Gráfico líneas

Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Estados Unidos	20
Irlanda	5
China	5
Singapur	4
España	3
Colombia	2
Australia	2
Chile	1
Indonesia	1
México	1

Países con más descargas

	Descargas
Estados Unidos	4
España	4
China	2
Colombia	1
Chile	1
Indonesia	1
México	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Shanghai	5
Inglewood	5
Madrid	3
Singapore	2
Ashburn	1
Bogotá	1
Craiova	1
Jakarta	1
Melbourne	1
Pachuca	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Shanghai	2
Madrid	2
Ashburn	1
Bogotá	1
Jakarta	1
Pachuca	1