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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	730

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	167

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TFM-G179.pdf	42

Visitas

	Visitas
junio 2025	4
julio 2025	21
agosto 2025	33
septiembre 2025	36
octubre 2025	23
noviembre 2025	34
diciembre 2025	16

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Número de descargas en el intervalo

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junio 2025

1
julio 2025

10
agosto 2025

8
septiembre 2025

2
octubre 2025

3
noviembre 2025

17
diciembre 2025

1
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	45
China	44
España	14
Brasil	13
Singapur	11
Rusia	9
Reino Unido	5
Francia	3
Alemania	3
Argentina	2

Países con más descargas

	Descargas
China	7
España	6
Estados Unidos	6
Reino Unido	5
Singapur	3
Alemania	3
Rusia	1

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	10
Inca	8
Madrid	4
Ashburn	4
Chicago	2
Coronel	2
Curitiba	2
Guangzhou	2
Huangpu	2
Santa Clara	2

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Madrid	1
Coronel	1