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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	692

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TFM-G179.pdf	256

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	153

Número de descargas en el intervalo

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TFM-G179.pdf	28

Visitas

	Visitas
maggio 2025	24
giugno 2025	4
luglio 2025	21
agosto 2025	33
settembre 2025	36
ottobre 2025	23
novembre 2025	12

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
maggio 2025

3
giugno 2025

1
luglio 2025

10
agosto 2025

8
settembre 2025

2
ottobre 2025

3
novembre 2025

1
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Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Stati Uniti	38
Cina	37
Russia	14
Singapore	13
Spagna	12
Brasile	7
Venezuela	4
Regno Unito	4
Germania	3
Francia	3

Países con más descargas

	Descargas
Spagna	7
Singapore	4
Stati Uniti	4
Russia	2
Cina	2
Regno Unito	1
Germania	1

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	10
Inca	8
Singapore	3
Ashburn	3
Curitiba	2
Kyiv	2
Madrid	2
Santa Clara	2
Coronel	2
Amsterdam	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Coronel	1
Madrid	1