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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	442

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	50

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TFM-G179.pdf	27

Visitas

	Visitas
ottobre 2023	6
novembre 2023	2
dicembre 2023	13
gennaio 2024	9
febbraio 2024	7
marzo 2024	7
aprile 2024	6

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
ottobre 2023

6
novembre 2023

2
dicembre 2023

1
gennaio 2024

3
febbraio 2024

7
marzo 2024

8
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Países con más visualizaciones

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Stati Uniti	28
Irlanda	5
Cina	5
Colombia	4
Cile	3
Singapore	2
Spagna	1
Finlandia	1
Messico	1

Países con más descargas

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Stati Uniti	5
Cina	2
Cile	2
Spagna	2
Colombia	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Ashburn	9
Shanghai	5
Inglewood	5
Bogotá	3
Puente Alto	2
Boardman	1
Dublin	1
Las Marinas	1
Mexico City	1
Palmira	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Ashburn	2
Shanghai	2
Bogotá	1
Puente Alto	1