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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	567

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	52

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TFM-G179.pdf	13

Visitas

	Visitas
gennaio 2025	6
febbraio 2025	6
marzo 2025	6
aprile 2025	6
maggio 2025	24
giugno 2025	4
luglio 2025	0

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Número de descargas en el intervalo

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gennaio 2025

2
febbraio 2025

2
marzo 2025

2
aprile 2025

3
maggio 2025

3
giugno 2025

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Países con más visualizaciones

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Stati Uniti	22
Russia	6
Venezuela	4
Regno Unito	3
India	2
Singapore	2
Ucraina	2
Cile	2
Australia	1
Belgio	1

Países con más descargas

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Russia	2
Stati Uniti	2
Cile	1
Singapore	1

Ciudades con más visualizaciones

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Inglewood	5
Bromley	3
Kyiv	2
Coronel	2
Amsterdam	1
Ashburn	1
Bogotá	1
Council Bluffs	1
Mumbai	1
Perth	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Coronel	1
Ashburn	1