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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	459

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	46

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TFM-G179.pdf	25

Visitas

	Visitas
gennaio 2024	9
febbraio 2024	7
marzo 2024	7
aprile 2024	10
maggio 2024	2
giugno 2024	8
luglio 2024	3

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
gennaio 2024

3
febbraio 2024

7
marzo 2024

8
aprile 2024

1
maggio 2024

2
giugno 2024

0
luglio 2024

4
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Países con más visualizaciones

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Stati Uniti	20
Irlanda	5
Cina	5
Singapore	4
Spagna	3
Colombia	2
Australia	2
Cile	1
Indonesia	1
Messico	1

Países con más descargas

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Stati Uniti	4
Spagna	4
Cina	2
Colombia	1
Cile	1
Indonesia	1
Messico	1

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	5
Inglewood	5
Madrid	3
Singapore	2
Ashburn	1
Bogotá	1
Craiova	1
Jakarta	1
Melbourne	1
Pachuca	1

Ciudades con más descargas

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Shanghai	2
Madrid	2
Ashburn	1
Bogotá	1
Jakarta	1
Pachuca	1