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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	628

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	101

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TFM-G179.pdf	28

Visitas

	Visitas
marzo 2025	6
aprile 2025	6
maggio 2025	24
giugno 2025	4
luglio 2025	21
agosto 2025	33
settembre 2025	7

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Número de descargas en el intervalo

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marzo 2025

2
aprile 2025

3
maggio 2025

3
giugno 2025

1
luglio 2025

10
agosto 2025

8
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1
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Países con más visualizaciones

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Stati Uniti	27
Cina	16
Russia	14
Singapore	11
Spagna	9
Regno Unito	4
Venezuela	4
Germania	4
Belgio	2
Cile	2

Países con más descargas

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Spagna	6
Stati Uniti	5
Singapore	4
Russia	2
Cina	1
Cile	1

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	9
Inca	8
Bromley	3
Inglewood	2
Kyiv	2
Coronel	2
Boardman	1
Caen	1
Council Bluffs	1
Ghent	1

Ciudades con más descargas

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Inca	2
Coronel	1
Boardman	1