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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	549

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	49

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TFM-G179.pdf	20

Visitas

	Visitas
Novembro 2024	6
Dezembro 2024	9
Janeiro 2025	6
Fevereiro 2025	6
Março 2025	6
Abril 2025	6
Maio 2025	10

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
Novembro 2024

5
Dezembro 2024

5
Janeiro 2025

2
Fevereiro 2025

2
Março 2025

2
Abril 2025

3
Maio 2025

1
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Principais visualizações por país

	Visualizações
Estados Unidos	24
Irlanda	5
França	5
Reino Unido	3
Índia	2
Cingapura	2
China	2
Austrália	1
Canadá	1
Colômbia	1

Países con más descargas

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França	5
Estados Unidos	3
China	2
Índia	1
Cingapura	1

Principais visualizações por cidade

	Visualizações
Inglewood	6
Bromley	3
Amsterdam	1
Ashburn	1
Bogotá	1
Mumbai	1
Perth	1
San Francisco	1
Singapore	1
Thane	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	1
Mumbai	1