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Castán Lanaspa, María Helena (2)
Dueñas Carazo, Salvador (2)
Aarik, J. (1)
Arroval, T. (1)
García García, Héctor (1)
... View More
Date Issued
2018 (1)
2017 (1)
Formato
application/pdf (2)
... View More
GCME - Capítulos de monografías
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Grupo de Caracterización de Materiales y Dispositivos Electrónicos (GCME)
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RRAM Memories with ALD High-K Dielectrics: Electrical Characterization and Analytical Modeling
Castán Lanaspa, María Helena
;
Dueñas Carazo, Salvador
;
Sardiña, A.
;
García García, Héctor
;
Arroval, T.
;
Tamm, A.
;
Jõgiaas, T.
;
Kukli, K.
;
Aarik, J.
(
2017
)
Capacitance Spectroscopy for MOS Systems
Dueñas Carazo, Salvador
;
Castán Lanaspa, María Helena
(
2018
)
