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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	350

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Consultations : palmarès par pays

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Etats-Unis	25
Brésil	20
Russie	11
Espagne	10
Vietnam	7
Chine	6
Canada	2
Japon	2
Corée du Sud	2
Singapour	2

Países con más descargas

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Etats-Unis	23
Espagne	4
Canada	4
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Russie	1
Corée du Sud	1

Consultations : palmarès par ville

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Inca	8
São Paulo	4
Ho Chi Minh City	3
Rio de Janeiro	3
Hanoi	3
Shanghai	2
Tokyo	2
Valladolid	2
Montreal	2
Arenapolis	1

Ciudades con más descargas

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Inca	2
Shanghai	1