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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	285

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Consultations : palmarès par pays

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Chine	20
Brésil	13
Etats-Unis	11
Vietnam	4
Russie	4
Espagne	2
Finlande	1
Hong-Kong	1
Inde	1
Kyrgyzstan	1

Países con más descargas

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Etats-Unis	12
Chine	5
Espagne	1
Hong-Kong	1

Consultations : palmarès par ville

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São Paulo	3
Ho Chi Minh City	2
Valladolid	2
Hanoi	2
Arenapolis	1
Brasília	1
Cachoeiro de Itapemirim	1
Central	1
Criciúma	1
Guarulhos	1

Ciudades con más descargas

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Central	1