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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	350

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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	96

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Abril 2025	4
Maio 2025	24
Junho 2025	12
Julho 2025	10
Agosto 2025	14
Setembro 2025	25
Outubro 2025	7

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Abril 2025

5
Maio 2025

2
Junho 2025

3
Julho 2025

9
Agosto 2025

8
Setembro 2025

11
Outubro 2025

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Principais visualizações por país

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Estados Unidos	25
Brasil	20
Rússia	11
Espanha	10
Vietnã	7
China	6
Canadá	2
Japão	2
Coreia do Sul	2
Cingapura	2

Países con más descargas

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Estados Unidos	23
Espanha	4
Canadá	4
China	2
Rússia	1
Coreia do Sul	1

Principais visualizações por cidade

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Inca	8
São Paulo	4
Ho Chi Minh City	3
Rio de Janeiro	3
Hanoi	3
Shanghai	2
Tokyo	2
Valladolid	2
Montreal	2
Arenapolis	1

Ciudades con más descargas

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Inca	2
Shanghai	1