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CL as a tool for device characterisation: the case of laser diode degradation	398

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CL as a tool for device characterisation: the case of laser diode degradation	141

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CL-as-tool-for-device-characterisation.pdf	59

Visitas

	Visitas
maggio 2025	17
giugno 2025	38
luglio 2025	25
agosto 2025	10
settembre 2025	30
ottobre 2025	13
novembre 2025	8

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
maggio 2025

9
giugno 2025

8
luglio 2025

8
agosto 2025

7
settembre 2025

2
ottobre 2025

13
novembre 2025

12
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Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Stati Uniti	62
Cina	12
Russia	12
Brasile	12
Spagna	8
Venezuela	7
Singapore	5
India	4
Argentina	2
Australia	2

Países con más descargas

	Descargas
Stati Uniti	28
Spagna	6
Cina	2
Russia	1
Venezuela	1
Brasile	1
Australia	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Council Bluffs	12
Inca	7
Singapore	4
Shanghai	3
Hefei	3
Seoul	2
São Paulo	2
Huangpu	2
Ashburn	1
Aurangabad	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Ashburn	3
Inca	1