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CL as a tool for device characterisation: the case of laser diode degradation	153

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Visitas

	Visitas
Fevereiro 2024	3
Março 2024	6
Abril 2024	4
Maio 2024	5
Junho 2024	8
Julho 2024	13
Agosto 2024	12

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Número de descargas en el intervalo

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Fevereiro 2024

10
Março 2024

14
Abril 2024

12
Maio 2024

11
Junho 2024

8
Julho 2024

11
Agosto 2024

2
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Principais visualizações por país

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Estados Unidos	31
China	9
Cingapura	6
Alemanha	2
Indonésia	1
Índia	1
Rússia	1

Países con más descargas

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Estados Unidos	28
Rússia	10
China	4
Alemanha	3
Índia	2
Indonésia	1

Principais visualizações por cidade

	Visualizações
Ashburn	9
Singapore	5
Houston	3
Inglewood	2
Prineville	2
Indianola	2
Canyon Country	1
Huangshan City	1
Jakarta	1
Majorda	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	3
Indianola	2
Jakarta	1