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CL as a tool for device characterisation: the case of laser diode degradation245

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Agosto 202453
Setembro 202422
Outubro 202412
Novembro 20244
Dezembro 20243
Janeiro 20254
Fevereiro 20256
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  • Agosto 2024
    7
  • Setembro 2024
    10
  • Outubro 2024
    21
  • Novembro 2024
    7
  • Dezembro 2024
    8
  • Janeiro 2025
    7
  • Fevereiro 2025
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Estados Unidos51
Cingapura36
Suíça4
Austrália4
Índia2
China1
Espanha1
França1
Hong Kong, Região Admin. Especial da China1
Irlanda1

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Estados Unidos15
Suíça7
China2
Hong Kong, Região Admin. Especial da China2
França1

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Singapore26
Santa Clara9
Ashburn8
Houston4
Prineville4
Boardman4
Indianola2
Perth2
Canyon Country2
Adelaide1

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Ashburn7
Houston1