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    AuthorCastán Lanaspa, María Helena (29)Dueñas Carazo, Salvador (28)González Ossorio, Óscar (16)Kukli, Kaupo (16)García García, Héctor (15)... View MoreDate Issued2020 (11)2019 (7)2018 (13)2017 (1)Formatoapplication/pdf (32)... View More
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    Grupo de Caracterización de Materiales y Dispositivos Electrónicos (GCME) 
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      Low-energy inference machine with multilevel HfO2 RRAM arrays 

      Milo, V.; Zambelli, Cristian; Olivo, P.; Pérez, Eduardo; González Ossorio, ÓscarAutoridad UVA; Wenger, Christian; Ielmini, Daniele (2019)
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      Effective reduction of the programing pulse width in Al: HfO2-based RRAM arrays 

      González Ossorio, ÓscarAutoridad UVA; Pérez, Eduardo; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; García García, HéctorAutoridad UVA; Wenger, Christian (2019)
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      Energy levels of defects created in silicon supersaturated with transition metals 

      García García, HéctorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; García Hemme, E.; García Hernansaz, R.; Montero, D.; González Díaz, G. (2018)
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      Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications 

      García García, HéctorAutoridad UVA; González, M. B.; Mallol, M. M.; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Campabadal Segura, Francesca; Acero, M. C.; Sambuco Salomone, L.; Faigón, A. (2018)
    • Controlling the intermediate conductance states in RRAM devices for synaptic applications 

      García García, HéctorAutoridad UVA; González Ossorio, ÓscarAutoridad UVA; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA (2019)

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