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Sistema de inspección de alta eficiencia de plantas fotovoltaicas basado enmedidas de electroluminiscencia [Poster]

Guada, Miguel; Moretón Fernández, Ángel; Rodríguez Conde, Sofía; Sánchez, L.A.; González Rebollo, Miguel Ángel ; Martínez Sacristán, Óscar ; Jiménez López, Juan Ignacio ; Pérez, L.; Martínez, M.; Flórez, Jaime A.; Álvarez, E.; Parra, Victor; Velasco, A. (2017)
In-line examination of Si wafers & solar cells using high resolution X-ray imaging methods [Poster]

Solorzano Quijano, Eusebio ; Pérez Vasallo, Pablo (2017)
Local electromagnetic field enhancement on Si/InAsaxially heterostructuredNWs [Poster]

Pura Ruiz, José Luis ; Glasser, M.L.; Magdaleno de Benito, Álvaro Javier; Prieto Colorado, Ángel Carmelo ; Rodríguez Conde, Sofía; Lugstein, A.; Jiménez López, Juan Ignacio (2017)
Defects created by chemical and laser texturization on the surface of mc-Si wafers studied by optical means [Poster]

Vera, David; Mass, Julio; Manotas, Milton; Cabanzo, Rafael; Rodríguez Conde, Sofía; Vicente, Jose María; Martínez Sacristán, Óscar (2017)
High resolution LBIC characterization of defects in mc-Si solar cells [Poster]

Sánchez, L.A.; Moretón Fernández, Ángel; Guada, Miguel; Rodríguez Conde, Sofía; Martínez Sacristán, Óscar ; González Rebollo, Miguel Ángel ; Jiménez López, Juan Ignacio (2017)