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dc.contributor.advisor | Castán Lanaspa, María Helena | es |
dc.contributor.author | Domínguez López, Luis Antonio | |
dc.contributor.editor | Universidad de Valladolid. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación | es |
dc.date.accessioned | 2017-12-05T12:57:49Z | |
dc.date.available | 2017-12-05T12:57:49Z | |
dc.date.issued | 2017 | |
dc.identifier.uri | http://uvadoc.uva.es/handle/10324/27556 | |
dc.description.abstract | El fenómeno de conmutación resistiva consiste en el cambio súbito y no volátil de la resistencia eléctrica de una capa de material dieléctrico, como consecuencia de la aplicación de una tensión o corriente eléctricas. Este fenómeno está siendo objeto de una intensa investigación por su posible aplicación en dispositivos de memoria resistiva (ReRAM), basados en configuraciones metal-aislante-semiconductor (MIS) y metal-aislante-metal (MIM). En el presente trabajo se estudiará este fenómeno, así como, los equipos y montajes dedicados a este fin. | es |
dc.format.mimetype | application/pdf | es |
dc.language.iso | spa | es |
dc.rights.accessRights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | |
dc.subject.classification | Memoria resistiva | es |
dc.subject.classification | Memristor | es |
dc.subject.classification | ReRAM | es |
dc.subject.classification | MIS | es |
dc.title | Análisis de fenómenos de conmutación resistiva unipolares y bipolares | es |
dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis | es |
dc.description.degree | Grado en Ingeniería de Tecnologías Específicas de Telecomunicación | es |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International |
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- Trabajos Fin de Grado UVa [29685]
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