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dc.contributor.advisorCastán Lanaspa, María Helena es
dc.contributor.authorDomínguez López, Luis Antonio
dc.contributor.editorUniversidad de Valladolid. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación es
dc.date.accessioned2017-12-05T12:57:49Z
dc.date.available2017-12-05T12:57:49Z
dc.date.issued2017
dc.identifier.urihttp://uvadoc.uva.es/handle/10324/27556
dc.description.abstractEl fenómeno de conmutación resistiva consiste en el cambio súbito y no volátil de la resistencia eléctrica de una capa de material dieléctrico, como consecuencia de la aplicación de una tensión o corriente eléctricas. Este fenómeno está siendo objeto de una intensa investigación por su posible aplicación en dispositivos de memoria resistiva (ReRAM), basados en configuraciones metal-aislante-semiconductor (MIS) y metal-aislante-metal (MIM). En el presente trabajo se estudiará este fenómeno, así como, los equipos y montajes dedicados a este fin.es
dc.format.mimetypeapplication/pdfes
dc.language.isospaes
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.subject.classificationMemoria resistivaes
dc.subject.classificationMemristores
dc.subject.classificationReRAMes
dc.subject.classificationMISes
dc.titleAnálisis de fenómenos de conmutación resistiva unipolares y bipolareses
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesises
dc.description.degreeGrado en Ingeniería de Tecnologías Específicas de Telecomunicaciónes
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International


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