español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
Cambiar navegación
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
Cambiar navegación
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Chercher dans le dépôt
Cette collection
Parcourir
Tout UVaDOC
Communautés
Par date de publication
Auteurs
Sujets
Titres
Mon compte
Ouvrir une session
Statistiques
Statistiques d'usage de visualisation
Compartir
Statistiques
Accueil de UVaDOC
PUBLICATIONS SCIENTIFIQUES
Departamentos
Dpto. Electricidad y Electrónica
DEP22 - Artículos de revista
Statistiques
Accueil de UVaDOC
PUBLICATIONS SCIENTIFIQUES
Departamentos
Dpto. Electricidad y Electrónica
DEP22 - Artículos de revista
Statistiques
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
Statistiques
Nombre total de visites
Consultations
Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions
907
Seleccione un intervalo de tiempo:
Mois précédent
Semestre précédent
Année précédente
5 Años anteriores
Visualizaciones
Descargas
Número de visitas en el intervalo
Consultations
Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions
214
Visitas
Visitas
septembre 2025
38
octobre 2025
24
novembre 2025
34
décembre 2025
15
janvier 2026
73
février 2026
24
mars 2026
6
Descarga de datos en CSV
Gráfico barras
Gráfico líneas
Consultations : palmarès par pays
Consultations
Vietnam
64
Etats-Unis
57
Chine
34
Brésil
12
Russie
11
Hong-Kong
7
Royaume-Uni
4
Iran
3
Corée du Sud
3
Singapour
3
Consultations : palmarès par ville
Consultations
Ho Chi Minh City
20
Hanoi
12
Rostov-on-Don
11
Central
7
Buon Ma Thuot
4
Nha Trang
3
Seoul
3
Singapore
3
Los Angeles
3
Ashburn
2