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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://uvadoc.uva.es/handle/10324/33892
Título: IONDegradation in Si Devices in Harsh Radiation Environments: Modeling of Damage-Dopant Interactions
Autor: López Martín, Pedro
Aboy Cebrián, María
Muñoz, I.
Santos Tejido, Iván
Marqués Cuesta, Luis Alberto
Couso, C.
Ullán, M.
Pelaz Montes, María Lourdes
Congreso: 2018 Spanish Conference on Electron Devices (CDE)
Spanish Conference on Electron Devices (CDE 2018)
Año del Documento: 2019
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE).
Descripción: Producción Científica
Documento Fuente: 2018 Spanish Conference on Electron Devices (CDE). Proceedings, 14-16 Nov. 2018, Salamanca.
Resumen: Electronic devices operating in harsh radiation environments must withstand high radiation levels with minimal performance degradation. Recent experiments on the radiation hardness of a new vertical p-type JFET power switch have shown a significant reduction of forward drain current under non-ionizing conditions. In this work, atomistic simulations are used to study the impact of irradiation-induced displacement damage on forward characteristics. Damage models have been updated to produce a better description of damage-dopant interactions at RT. Our results show that excess self-interstitials produced by irradiation deactivate a significant amount of B atoms, thus reducing the effective dopant concentration.
Palabras Clave: Degradación de la corriente
Current degradation
Silicio
Silicon
ISBN: 978-1-5386-5779-9
DOI: https://doi.org/10.1109/CDE.2018.8596953
https://doi.org/10.1109/CDE.2018.8596953
Patrocinador: Ministerio de Ciencia e Innovación (Project TEC2014-60694-P)
Junta de Castilla y León (programa de apoyo a proyectos de investigación - Ref. VA119G18)
Version del Editor: https://ieeexplore.ieee.org/document/8596953
Propietario de los Derechos: © 2019 IEEE
Idioma: eng
URI: http://uvadoc.uva.es/handle/10324/33892
Derechos: info:eu-repo/semantics/openAccess
Aparece en las colecciones:Electrónica - Comunicaciones a congresos, conferencias, etc.
DEP22 - Comunicaciones a congresos, conferencias, etc.

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