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Electrónica - Artículos de revista: Envíos recientes
Anzeige der Dokumente 11-15 von 33
Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions
Aboy Cebrián, María
;
Pelaz Montes, María Lourdes
;
López Martín, Pedro
;
Bruno, Elena
;
Mirabella, Salvo
(
2010
)
Self-trapping in B-doped amorphous Si: Intrinsic origin of low acceptor efficiency
Santos Tejido, Iván
;
Castrillo, P.
;
Windl, W.
;
Drabold, D. A.
;
Pelaz Montes, María Lourdes
;
Marqués Cuesta, Luis Alberto
(
2010
)
Simulation of p-n junctions: Present and future challenges for technologies beyond 32 nm
Pelaz Montes, María Lourdes
;
Marqués Cuesta, Luis Alberto
;
Aboy Cebrián, María
;
Santos Tejido, Iván
;
López Martín, Pedro
;
Duffy, Ray
(
2010
)
Elucidating the atomistic mechanisms driving self-diffusion of amorphous Si during annealing
Santos Tejido, Iván
;
Pelaz Montes, María Lourdes
;
Marqués Cuesta, Luis Alberto
;
Colombo, Luciano
(
2011
)
The curious case of thin-body Ge crystallization
Duffy, Ray
;
Shayesteh, M.
;
McCarthy, B.
;
Blake, A.
;
White, M.
;
Scully, J.
;
Yu, R.
;
Kelleher, A. M.
;
Schmidt, M.
;
Petkov, N.
;
Pelaz Montes, María Lourdes
;
Marqués Cuesta, Luis Alberto
(
2011
)