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Modeling and experimental characterization of stepped and v-shaped {311} defects in silicon845

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enero 202567
febrero 202530
marzo 202533
abril 202559
mayo 202528
junio 202556
julio 20255
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  • enero 2025
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Finlandia39
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Singapur3

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Estados Unidos18
Alemania3
China3

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Council Bluffs13
Central6
Perth3
Ashburn3
Adelaide2
Campinas2
Chicago2
Detroit2
Hanoi2
Singapore2

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Ashburn7
Chicago3