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    Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:http://uvadoc.uva.es/handle/10324/32057

    Título
    Caracterización estructural de materiales cristalinos: análisis de imágenes con resolución atómica mediante la transformada de Fourier
    Autor
    Nieto Díez, Maralla
    Director o Tutor
    Santos Tejido, IvánAutoridad UVA
    Editor
    Universidad de Valladolid. Facultad de CienciasAutoridad UVA
    Año del Documento
    2018
    Titulación
    Grado en Física
    Resumen
    El presente trabajo pretende abordar la técnica de caracterización de materiales cristalinos llamada Análisis de la Fase Geométrica (Geometric Phase Analysis, GPA), mediante la cual se pueden extraer campos de desplazamiento y campos de tensión a partir de imágenes de microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (high resolution transmission electron microscopy, HRTEM), definiéndose pues estructuralmente el material, dando cuenta de los defectos presentes en ellos. El método se basa en seleccionar un punto de fuerte reflexión en la transformada de Fourier de la imagen original HRTEM y posteriormente realizar la transformada de Fourier inversa de manera que obtengamos la componente de la imagen resultante a la que llamaremos “fase”. Con la componente fase de dos puntos no colineales podremos obtener tanto el campo de desplazamiento como el campo de tensión, este último derivando el primero.
    Palabras Clave
    Análisis fase geométrica
    Caracterización estructural
    Defectos extensos
    Silicio
    Idioma
    spa
    URI
    http://uvadoc.uva.es/handle/10324/32057
    Derechos
    openAccess
    Aparece en las colecciones
    • Trabajos Fin de Grado UVa [30857]
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    Ficheros en el ítem
    Nombre:
    TFG-G2998.pdf
    Tamaño:
    9.635Mb
    Formato:
    Adobe PDF
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