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dc.contributor.advisorAlonso González, Carlos Javier es
dc.contributor.advisorPulido Junquera, José Belarmino es
dc.contributor.authorCartón González, Mario
dc.contributor.editorUniversidad de Valladolid. Escuela de Ingeniería Informática de Valladolid es
dc.date.accessioned2018-12-05T16:28:32Z
dc.date.available2018-12-05T16:28:32Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.urihttp://uvadoc.uva.es/handle/10324/33324
dc.description.abstractLos dispositivos electrónicos son una pieza clave y fundamental en la sociedad actual. En gran cantidad de escenarios es de vital importancia que estos dispositivos estén en continuo funcionamiento y la detección de posibles fallos es un factor crucial para mantener en funcionamiento el sistema en el que se integran. Los posibles fallos de estos dispositivos electrónicos normalmente suelen ser causados por fallos en los componentes que integran, por ejemplo, transistores MOSFET. En este contexto es necesario realizar un estudio y modelado de la vida útil de los dispositivos (RUL), es decir, es necesario descubrir y aplicar técnicas que permitan predecir el tiempo de vida que queda para cada dispositivo, es lo que se conoce como prognosis.es
dc.description.sponsorshipDepartamento de Informática (Arquitectura y Tecnología de Computadores, Ciencias de la Computación e Inteligencia Artificial, Lenguajes y Sistemas Informáticos)es
dc.format.mimetypeapplication/zipes
dc.language.isospaes
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.subject.classificationArquitectura Big Dataes
dc.subject.classificationPrognosises
dc.subject.classificationDispositivos electrónicoses
dc.titleUna propuesta de arquitectura Big Data para la prognosis de dispositivos electrónicoses
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesises
dc.description.degreeMáster en Ingeniería Informáticaes
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International


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