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    AutorBargalló González, Mireia (2)
    Campabadal Segura, Francesca (2)
    Castán Lanaspa, María Helena (2)
    Dueñas Carazo, Salvador (2)
    García García, Héctor (2)... másFecha
    2018 (2)
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    Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications 

    García García, HéctorAutoridad UVA; Bargalló González, Mireia; Mallol, M. M.; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Campabadal Segura, Francesca; Acero, M. C.; Sambuco Salomone, L.; Faigón, A. (2018)
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    Analysis and control of the intermediate memory states of RRAM devices by means of admittance parameters 

    Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; García García, HéctorAutoridad UVA; González Ossorio, ÓscarAutoridad UVA; Domínguez, Leidy Azucena; Sahelices Fernández, BenjamínAutoridad UVA; Miranda, E.; Bargalló González, Mireia; Campabadal Segura, Francesca (2018)

    Universidad de Valladolid

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