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        A physically based model to describe resistive switching in different RRAM technologies 

        González-Cordero, G.; González, M.B.; García García, HéctorAutoridad UVA; Campabadal, F.; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Jiménez-Molinos, F.; Roldán, J.B. (2017)
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        Admittance memory cycles of Ta2O5-ZrO2-based RRAM devices 

        Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; González Ossorio, ÓscarAutoridad UVA; Domínguez, Leidy Azucena; García García, HéctorAutoridad UVA; Kalam, Kristjan; Kukli, Kaupo; Ritala, Mikko; Leskelä, Markku (2017)
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        Advanced electrical characterization of atomic layer deposited Al2O3 MIS-based structures 

        García García, HéctorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; González, M.B.; Acero, M.C.; Campabadal, F. (2017)

        Universidad de Valladolid

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