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Advanced electrical characterization of atomic layer deposited Al2O3 MIS-based structures471

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Consultations : palmarès par pays

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Vietnam95
Etats-Unis50
Chine35
Hong-Kong13
Brésil12
Singapour6
Canada2
Allemagne2
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Oman2

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Etats-Unis31
Chine11
Hong-Kong5
Vietnam2
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Singapour1
Canada1
Brésil1
Inde1
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Consultations : palmarès par ville

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Hanoi30
Ho Chi Minh City19
Central11
Bien Hoa5
Singapore4
Haiphong3
Ashburn3
Bac Giang2
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Chicago2

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Central2
Ashburn2
Beijing2
Ho Chi Minh City1
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