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Fabrication, characterization and modeling of TiN/Ti/HfO2/W memristors: programming based on an external capacitor discharge	185

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febrero 2025	3
marzo 2025	1
abril 2025	9
mayo 2025	17
junio 2025	8
julio 2025	16
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febrero 2025

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Rusia	5
India	4
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Suecia	2
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Biguacu	1
Blumenau	1
Canoas	1
Fort Myers	1
Guayaquil	1
Inca	1
London	1

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