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RRAM Memories with ALD High-K Dielectrics: Electrical Characterization and Analytical Modeling233

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août 202431
septembre 202429
octobre 202440
novembre 202416
décembre 202429
janvier 202533
février 20251
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  • août 2024
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Singapour53
Etats-Unis38
Russie18
Chine18
Inde12
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France9
Brésil8
Hong-Kong6
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Hong-Kong6
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Chine3
Russie2

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Singapore29
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