Buscar

Mostrando ítems 1-7 de 7

Sistema de inspección de alta eficiencia de plantas fotovoltaicas basado enmedidas de electroluminiscencia [Poster]

Guada, Miguel; Moretón Fernández, Ángel; Rodríguez Conde, Sofía; Sánchez, L.A.; González Rebollo, Miguel Ángel

; Martínez Sacristán, Óscar

; Jiménez López, Juan Ignacio

; Pérez, L.; Martínez, M.; Flórez, Jaime A.; Álvarez, E.; Parra, Victor; Velasco, A. (2017)

Cathodoluminescence characterization of the band gap energy in dilute nitride GaNSbAs alloys [Poster]

Navarro, A.; Martínez Sacristán, Óscar

; Galiana, Beatriz; Lombardero, I.; Ochoa, M.; García, I.; Gabás, M.; Ballesteros, Carmen; Jiménez López, Juan Ignacio

; Algora, C. (2017)

Defects created by chemical and laser texturization on the surface of mc-Si wafers studied by optical means [Poster]

Vera, David; Mass, Julio; Manotas, Milton; Cabanzo, Rafael; Rodríguez Conde, Sofía; Vicente, Jose María; Martínez Sacristán, Óscar

(2017)

High resolution LBIC characterization of defects in mc-Si solar cells [Poster]

Sánchez, L.A.; Moretón Fernández, Ángel; Guada, Miguel; Rodríguez Conde, Sofía; Martínez Sacristán, Óscar

; González Rebollo, Miguel Ángel

; Jiménez López, Juan Ignacio

(2017)

Optical and structural characterisation of epitaxial nanoporous GaN grown by CVD

Mena, Josué; Carvajal, Joan Josep; Martínez Sacristán, Óscar

; Jiménez López, Juan Ignacio

; Zubialevich, V.; Parbrook, Peter; Díaz, Francesc; Aguiló, Magdalena (2017)

Implementation of a Friendly Daylight Electroluminescence System for the Inspection of Solar PV Panels

Martínez Sacristán, Óscar

; Guada, Miguel; Moretón Fernández, Ángel; Rodríguez Conde, Sofía; González Rebollo, Miguel Ángel

; Jiménez López, Juan Ignacio

; Pérez, José; Martínez, M.; Flórez, Jaime A.; Silva, H.; Zapata Velasco, Antonio; Río Pérez, Luis Mariano del; Parra, Victor (2017)

Polarization-Resolved Near-Field Spectroscopy of Localized States in m-Plane InxGa1−xN/GaN Quantum Wells

Ivanov, Ruslan; Martínez Sacristán, Óscar

; Kuritzky, Leah Y.; Myers, Daniel J.; Nakamura, Shuji; Speck, James S. (2017)