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    AutorPelaz Montes, María Lourdes (3)Aboy Cebrián, María (2)López Martín, Pedro (2)Marqués Cuesta, Luis Alberto (2)Santos Tejido, Iván (2)... másFecha
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    Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions 

    Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Bruno, Elena; Mirabella, Salvo (2010)
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    Self-trapping in B-doped amorphous Si: Intrinsic origin of low acceptor efficiency 

    Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Castrillo, P.; Windl, W.; Drabold, D. A.; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA (2010)
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    Simulation of p-n junctions: Present and future challenges for technologies beyond 32 nm 

    Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Duffy, Ray (2010)

    Universidad de Valladolid

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