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DEP22 - Artículos de revista: Envíos recientes
Voici les éléments 61-65 de 65
A detailed approach for the classification and statistical analysis of irradiation induced defects
López Martín, Pedro
;
Santos Tejido, Iván
;
Aboy Cebrián, María
;
Marqués Cuesta, Luis Alberto
;
Pelaz Montes, María Lourdes
(
2015
)
Atomistic modeling of ion implantation technologies in silicon
Marqués Cuesta, Luis Alberto
;
Santos Tejido, Iván
;
Pelaz Montes, María Lourdes
;
López Martín, Pedro
;
Aboy Cebrián, María
(
2015
)
Molecular dynamics simulation of the early stages of self-interstitial clustering in silicon
Marqués Cuesta, Luis Alberto
;
Santos Tejido, Iván
;
Pelaz Montes, María Lourdes
;
López Martín, Pedro
;
Aboy Cebrián, María
(
2016
)
Insights on the atomistic origin of X and W photoluminescence lines in c-Si from ab initio simulations
Santos Tejido, Iván
;
Aboy Cebrián, María
;
López Martín, Pedro
;
Marqués Cuesta, Luis Alberto
;
Pelaz Montes, María Lourdes
(
2016
)
Improved physical models for advanced silicon device processing
Pelaz Montes, María Lourdes
;
Marqués Cuesta, Luis Alberto
;
Aboy Cebrián, María
;
López Martín, Pedro
;
Santos Tejido, Iván
(
2017
)