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    DEP22 - Artículos de revista: Envíos recientes

    Voici les éléments 61-65 de 65

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        A detailed approach for the classification and statistical analysis of irradiation induced defects 

        López Martín, PedroAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA (2015)
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        Atomistic modeling of ion implantation technologies in silicon 

        Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA (2015)
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        Molecular dynamics simulation of the early stages of self-interstitial clustering in silicon 

        Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA (2016)
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        Insights on the atomistic origin of X and W photoluminescence lines in c-Si from ab initio simulations 

        Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA (2016)
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        Improved physical models for advanced silicon device processing 

        Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA (2017)

        Universidad de Valladolid

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