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    Electrónica: Envíos recientes

    Mostrando ítems 16-20 de 41

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        Atomistic study of the anisotropic interaction between extended and point defects in crystalline silicon and its influence on Si self-interstitial diffusion 

        Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Ruiz Prieto, Manuel; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Hernández Díaz, A.M.; Castrillo, P. (2016)
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        Evaluation of energy barriers for topological transitions of Si self-interstitial clusters by classical molecular dynamics and the kinetic activation-relaxation technique 

        López Martín, PedroAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Trochet, M.; Mousseau, N.; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA (2017)
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        Characterization of amorphous Si generated through classical molecular dynamics simulations 

        Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA (2017)
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        Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions 

        Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Bruno, Elena; Mirabella, Salvo (2010)
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        Self-trapping in B-doped amorphous Si: Intrinsic origin of low acceptor efficiency 

        Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Castrillo, P.; Windl, W.; Drabold, D. A.; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA (2010)

        Universidad de Valladolid

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