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        Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions 

        Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Bruno, Elena; Mirabella, Salvo (2010)
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        Improved physical models for advanced silicon device processing 

        Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA (2017)
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        Simulation of p-n junctions: Present and future challenges for technologies beyond 32 nm 

        Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Duffy, Ray (2010)
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        Temperature effect on damage generation mechanisms during ion implantation in Si. A classical molecular dynamics study 

        Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA (2012)

        Universidad de Valladolid

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