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Autor Castán Lanaspa, María Helena (2)Dueñas Carazo, Salvador (2)Aarik, Jaan (1)Arroval, T. (1)García García, Héctor (1)... mehr Erscheinungsdatum 2018 (1)2017 (1)Formato application/pdf (2)... mehr

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Capacitance Spectroscopy for MOS Systems

Dueñas Carazo, Salvador

; Castán Lanaspa, María Helena

(2018)

RRAM Memories with ALD High-K Dielectrics: Electrical Characterization and Analytical Modeling

Castán Lanaspa, María Helena

; Dueñas Carazo, Salvador

; Sardiña, A.; García García, Héctor

; Arroval, T.; Tamm, A.; Jõgiaas, T.; Kukli, K.; Aarik, Jaan (2017)

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