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CL as a tool for device characterisation: the case of laser diode degradation	447

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CL as a tool for device characterisation: the case of laser diode degradation	100

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Visitas

	Visitas
settembre 2025	30
ottobre 2025	13
novembre 2025	12
dicembre 2025	6
gennaio 2026	6
febbraio 2026	12
marzo 2026	21

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
settembre 2025

2
ottobre 2025

13
novembre 2025

21
dicembre 2025

6
gennaio 2026

8
febbraio 2026

17
marzo 2026

4
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Gráfico barras

Gráfico líneas

Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Stati Uniti	36
Cina	32
Spagna	8
Brasile	8
Vietnam	2
Argentina	1
Canada	1
Germania	1
Finlandia	1
Regno Unito	1

Países con más descargas

	Descargas
Stati Uniti	37
Cina	6
Vietnam	5
Brasile	2
Germania	2
Spagna	1
Finlandia	1
Regno Unito	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Inca	6
Shanghai	3
Valladolid	2
Los Angeles	2
Ashburn	1
Baishan	1
Boardman	1
Capitao Poco	1
Central	1
Contagem	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Central	3
Ashburn	2
Shanghai	1
Inca	1