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CL as a tool for device characterisation: the case of laser diode degradation	407

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CL-as-tool-for-device-characterisation.pdf	64

Visitas

	Visitas
junio 2025	38
julio 2025	25
agosto 2025	10
septiembre 2025	30
octubre 2025	13
noviembre 2025	12
diciembre 2025	5

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
junio 2025

8
julio 2025

8
agosto 2025

7
septiembre 2025

2
octubre 2025

13
noviembre 2025

21
diciembre 2025

5
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Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Estados Unidos	64
China	16
Brasil	12
España	8
Rusia	7
Singapur	5
India	3
Argentina	2
Australia	2
Hong Kong	2

Países con más descargas

	Descargas
Estados Unidos	32
España	6
China	5
Hong Kong	3
Brasil	1
Australia	1
Rusia	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Council Bluffs	12
Inca	7
Singapore	4
Shanghai	4
Hefei	3
Seoul	2
São Paulo	2
Central	2
Ashburn	1
Aurangabad	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Ashburn	4
Shanghai	1
Central	1
Inca	1