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CL as a tool for device characterisation: the case of laser diode degradation	447

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Visitas

	Visitas
septiembre 2025	30
octubre 2025	13
noviembre 2025	12
diciembre 2025	6
enero 2026	6
febrero 2026	12
marzo 2026	21

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
septiembre 2025

2
octubre 2025

13
noviembre 2025

21
diciembre 2025

6
enero 2026

8
febrero 2026

17
marzo 2026

4
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Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Estados Unidos	36
China	32
España	8
Brasil	8
Vietnam	2
Argentina	1
Canadá	1
Alemania	1
Finlandia	1
Reino Unido	1

Países con más descargas

	Descargas
Estados Unidos	37
China	6
Vietnam	5
Brasil	2
Alemania	2
España	1
Finlandia	1
Reino Unido	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Inca	6
Shanghai	3
Valladolid	2
Los Angeles	2
Ashburn	1
Baishan	1
Boardman	1
Capitao Poco	1
Central	1
Contagem	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Central	3
Ashburn	2
Shanghai	1
Inca	1