• español
  • English
  • français
  • Deutsch
  • português (Brasil)
  • italiano
    • español
    • English
    • français
    • Deutsch
    • português (Brasil)
    • italiano
    • español
    • English
    • français
    • Deutsch
    • português (Brasil)
    • italiano
    JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

    Listar

    Todo UVaDOCComunidadesPor fecha de publicaciónAutoresMateriasTítulos

    Mi cuenta

    Acceder
    Listar Grupos de Investigación por tema 
    •   UVaDOC Principal
    • PRODUCCIÓN CIENTÍFICA
    • Grupos de Investigación
    • Listar Grupos de Investigación por tema
    •   UVaDOC Principal
    • PRODUCCIÓN CIENTÍFICA
    • Grupos de Investigación
    • Listar Grupos de Investigación por tema
    • español
    • English
    • français
    • Deutsch
    • português (Brasil)
    • italiano

    ListarGrupos de Investigación por tema "Implantación de iones"

    • 0-9
    • A
    • B
    • C
    • D
    • E
    • F
    • G
    • H
    • I
    • J
    • K
    • L
    • M
    • N
    • O
    • P
    • Q
    • R
    • S
    • T
    • U
    • V
    • W
    • X
    • Y
    • Z

    Ordenar por:

    Orden:

    Resultados:

    Mostrando ítems 1-3 de 3

    • título
    • fecha de envío
    • ascendente
    • descendente
    • 5
    • 10
    • 20
    • 40
    • 60
    • 80
    • 100
      • Thumbnail

        Improved physical models for advanced silicon device processing 

        Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA (2017)
      • Thumbnail

        Simulation of p-n junctions: Present and future challenges for technologies beyond 32 nm 

        Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA; Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Duffy, Ray (2010)
      • Thumbnail

        Temperature effect on damage generation mechanisms during ion implantation in Si. A classical molecular dynamics study 

        Santos Tejido, IvánAutoridad UVA; Marqués Cuesta, Luis AlbertoAutoridad UVA; Pelaz Montes, María LourdesAutoridad UVA; López Martín, PedroAutoridad UVA; Aboy Cebrián, MaríaAutoridad UVA (2012)

        Universidad de Valladolid

        Powered by MIT's. DSpace software, Version 5.10