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Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	787

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octubre 2025	13
noviembre 2025	16
diciembre 2025	10
enero 2026	30
febrero 2026	16
marzo 2026	25
abril 2026	29

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octubre 2025

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noviembre 2025

12
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enero 2026

12
febrero 2026

6
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13
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8
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	40
China	29
Brasil	12
Hong Kong	7
Vietnam	6
Reino Unido	6
Alemania	5
Singapur	4
India	4
Iraq	3

Países con más descargas

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Estados Unidos	18
China	12
Hong Kong	6
Brasil	5
Singapur	4
Vietnam	2
Reino Unido	1

Ciudades con más visualizaciones

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Central	6
Hanoi	4
Singapore	4
Frankfurt am Main	4
Seoul	2
Shenyang	2
Baghdad	2
Aparecida de Goiania	1
Arraijan	1
Ayr	1

Ciudades con más descargas

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Central	6
Singapore	2