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Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	745

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Setembro 2025	30
Outubro 2025	13
Novembro 2025	16
Dezembro 2025	10
Janeiro 2026	30
Fevereiro 2026	16
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Setembro 2025

13
Outubro 2025

5
Novembro 2025

12
Dezembro 2025

3
Janeiro 2026

12
Fevereiro 2026

6
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7
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Principais visualizações por país

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China	38
Estados Unidos	33
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	8
Brasil	8
Alemanha	5
Cingapura	4
Reino Unido	4
Espanha	3
Índia	3
Coreia do Sul	3

Países con más descargas

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China	16
Estados Unidos	13
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	8
Brasil	4
Espanha	3
Cingapura	2
Reino Unido	1
Alemanha	1

Principais visualizações por cidade

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Central	8
Singapore	4
Frankfurt am Main	4
Hefei	2
Huangpu	2
London	2
New York	2
Seoul	2
Shenyang	2
Valladolid	2

Ciudades con más descargas

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Central	8
Singapore	2
Frankfurt am Main	1