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Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells	702

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Julho 2025	23
Agosto 2025	24
Setembro 2025	30
Outubro 2025	13
Novembro 2025	16
Dezembro 2025	10
Janeiro 2026	15

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Julho 2025

5
Agosto 2025

7
Setembro 2025

13
Outubro 2025

5
Novembro 2025

12
Dezembro 2025

3
Janeiro 2026

7
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Principais visualizações por país

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China	30
Estados Unidos	28
Espanha	18
Rússia	9
Cingapura	7
Brasil	7
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	6
Vietnã	5
Reino Unido	3
África do Sul	3

Países con más descargas

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Estados Unidos	13
China	13
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	5
Cingapura	4
Espanha	4
Brasil	3
Vietnã	1
Reino Unido	1

Principais visualizações por cidade

	Visualizações
Inca	8
Central	6
Shanghai	4
Singapore	3
Huangpu	3
Hefei	2
Ho Chi Minh City	2
New York	2
Seoul	2
Shenyang	2

Ciudades con más descargas

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Central	5
Inca	2
Singapore	2
Ho Chi Minh City	1